碳化物不均勻度測(cè)量 碳化物深度測(cè)量 使用掃描電子顯微鏡與其他設(shè)備的組合以實(shí)現(xiàn)多種分析功能。

在掃描電子顯微鏡上安裝許多附件，可以實(shí)現(xiàn)一機(jī)多用，成為了一種快速、直觀、綜合性分析儀器。

圖1

目前掃描電子顯微鏡的最主要組合分析功能

X射線顯微分析系統(tǒng)，也就是能譜儀，EDS

主要用于元素的定性和定量分析，并可分析樣品微區(qū)的化學(xué)成分等信息。

圖2

背散射電子衍射系統(tǒng)，也就是結(jié)晶學(xué)分析系統(tǒng)，主要用于晶體和礦物的研究。

掃描電子顯微鏡組合分析功能，例如，顯微熱臺(tái)和冷臺(tái)系統(tǒng)，主要用于觀察和分析材料在加熱和；冷凍過(guò)程中微觀結(jié)構(gòu)上的變化。

拉伸臺(tái)系統(tǒng)，主要用于觀察和分析材料在受力過(guò)程中所發(fā)生的微觀結(jié)構(gòu)變化。

掃描電子顯微鏡與其他設(shè)備組合而具有的新型分析功能為新材料、新工藝的探索和研究起到重要作用。