GJB4.11-83艦船電子設(shè)備環(huán)境試驗鹽霧試驗

本部分主要確定電子元器件或零部件抗鹽霧腐蝕的能力。主要用以評定金屬保護(hù)層的質(zhì)量及其均勻性，特別適用于對類似保護(hù)層進(jìn)行比較。本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了艦船電子設(shè)備的元器件及零部件的鹽霧試驗，它是制定艦船電子設(shè)備總技術(shù)條件或產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)等技術(shù)文件相應(yīng)部分的基礎(chǔ)和選用的依據(jù).

鹽霧沉降率的數(shù)值應(yīng)為1.0-2.0毫米/80厘米2.小時。鹽溶液的溫度應(yīng)與箱溫一致，噴霧液不許重復(fù)使用。試驗采用間歇噴霧方法，在溫度35時，連續(xù)噴霧8小時，停止加熱，停止噴霧，在靜止和密閉狀態(tài)下保持16小時，共24小時為1個周期。檢測：按照有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，對樣品進(jìn)行外觀檢查及電性能的檢測。實驗室完全按照ISO/IEC17025：2005《檢測和校準(zhǔn)實驗室能力的通用要求》（CNAS-CL01）《檢測和校準(zhǔn)實驗室能力認(rèn)可準(zhǔn)則》）的