高加速壽命測試（Highly Accelerated Life Testing，簡稱HALT測試）是一種對電子和機械裝配件利用快速高、低溫變換的高環(huán)境應力來揭示設計缺陷和不足的過程。高加速壽命測試的目的是在，短時間內即可進行產品的失效原因分析，可在產品開發(fā)的早期階段識別出產品的功能和破壞極限，從而優(yōu)化產品的可靠性。

HALT以連續(xù)的測試、失效分析、缺陷改進及驗證構成了整個程序，可能是個閉環(huán)循環(huán)過程。往往一個測試計劃，需要重復進行幾次，除非一次性能經受加速應力試驗。其關鍵在于分析失效的根本原因。

測試目的

· 利用高環(huán)境應力將產品設計缺陷激發(fā)出來，并加以改善；

· 了解產品的設計能力及失效模式；

· 作為高應力篩選及制定品質核查規(guī)格的參考；

· 快速找出產品制造過程的瑕疵；

· 增加產品的可靠性，減少維修成本；

· 建立產品設計能力數據庫，為研發(fā)提供依據并縮短設計制造周期。

實驗室高加速測試設備

高加速老化試驗機

測試能力

實驗室測試范圍：低溫度：-70℃，高溫度：150℃

濕度范圍：60℃/min

高加速壽命試驗項目包括

· 低溫步進應力試驗；

· 高溫步進應力試驗；

· 快速熱循環(huán)試驗；

· 振動步進應力試驗；

· 綜合應力試驗；

· 工作應力測試。