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| 發(fā)布時(shí)間： | 2023-12-20 03:01 |
| 最后更新： | 2023-12-20 03:01 |
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電源完整性檢測(cè)，電源完整性影響，電源完整性修改方案
主要是因?yàn)?，?duì)于低頻應(yīng)用，開(kāi)關(guān)電源的設(shè)計(jì)更多靠的是經(jīng)驗(yàn)，或者功能級(jí)仿真來(lái)輔助即可，電源完整性分析好像幫不上大忙，而對(duì)于50M -100M以?xún)?nèi)的中低頻應(yīng)用，開(kāi)關(guān)電源中電容的設(shè)計(jì)，經(jīng)驗(yàn)法則在大多數(shù)情況下也是夠用的，甚至一些芯片公司提供的Excel表格型工具也能搞定這個(gè)頻段的問(wèn)題，而對(duì)于100M以上的應(yīng)用，基本就是IC的事情了，和板級(jí)沒(méi)太大關(guān)系了，電源完整性仿真，除非能做到芯片到芯片的解決方案，加上封裝以及芯片的模型，純粹做板級(jí)的仿真意義不大，真是這樣嗎？